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Forschungsinfrastruktur -  
Materials

Surface Characterisation Lab

Messungen und Analysen von kleinsten Strukturen, Schichten und Bauelementen im Mikro- und Nanomaßstab auf flexiblen Substraten.

 

Jupiter XR Atomic Force Microscope (AFM), Foto: JOANNEUM RESEARCH/Bergmann

Wir bieten mit unserem Surface Characterisation Lab Messungen und Analysen von kleinsten Strukturen, Schichten und Bauelementen im Mikro- und Nanomaßstab auf flexiblen Substraten an.

Wenn Sie aus dem wissenschaftlichen Bereich kommen, ist das genauso interessant wie für Kunden aus der Industrie. Für die Messungen verwenden wir folgende Technologien: 

  • Rasterkraftmikroskopie (AFM)
  • konfokale Laserscanningmikroskopie von Keyence mit großer Bühne
  • Ultramikrotomie für Präzisionsschnitte in Kombination mit Elektronenstrahllithographie (REM)
  • Röntgen- und UV-Photoelektronenspektroskopie (XPS/UPS) sowie REM/EDX
  • Ellipsometrie
  • UV-VIS-NIR Spektroskopie 
  • Fluoreszenzanalyse
  • Röntgenfluoreszenzanalyse

 

Kontakt

Ihre Ansprechperson

Mag. Dr. Philipp Schäffner

Standort

MATERIALS – 
Institut für Sensorik, Photonik und Fertigungstechnologien
Franz-Pichler-Straße 30,
8160
Weiz

Das sagen unsere Kunden

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